用于特性分析的靈活編程方式

ACS的特點(diǎn)是腳本編輯器，這是一個(gè)獨(dú)立的工具，帶有圖形用戶界面，用于開發(fā)Python代碼和TSP®腳本，進(jìn)行儀表控制、數(shù)據(jù)分析和系統(tǒng)自動(dòng)化操作。其提供創(chuàng)建和開發(fā) GUI 設(shè)計(jì)以及管理用戶庫和模塊的直觀方法。

自動(dòng)化數(shù)據(jù)收集過程

ACS的晶圓探針自動(dòng)化選項(xiàng)使您能夠輕松將各種常用的半自動(dòng)或全自動(dòng)晶片探針臺(tái)連接到測(cè)試設(shè)置中，從而可以快速捕獲大量數(shù)據(jù)。此選項(xiàng)包括晶片描述實(shí)用程序、具有晶片評(píng)等功能的實(shí)時(shí)晶片圖、暗盒樣品計(jì)劃實(shí)用程序以及測(cè)試后暗盒和晶片查看實(shí)用程序。ACS 內(nèi)置的許多工具和功能都可以增強(qiáng)設(shè)備的自動(dòng)檢定能力。

分享測(cè)試項(xiàng)目和結(jié)果

ACS提供了一組通用的關(guān)鍵元素，可以跨多種硬件配置工作，從而減少了時(shí)間并提高了生產(chǎn)率。系統(tǒng)從一個(gè)硬件到另一個(gè)硬件實(shí)現(xiàn)的執(zhí)行是一致的，因此，例如，很容易將用于單設(shè)備組件表征的基礎(chǔ)ACS系統(tǒng)的你的測(cè)試結(jié)果轉(zhuǎn)移到另一個(gè)設(shè)計(jì)用于晶圓級(jí)測(cè)試的系統(tǒng)。

限度地提高 Keithley 硬件的生產(chǎn)率

ACS中的工具簡(jiǎn)化了測(cè)試開發(fā)流程，限度地提高了與系統(tǒng)相連的每個(gè)Keithley儀器的速度。ACS 和 Keithley 基礎(chǔ)TSP的硬件一起提供了業(yè)界的吞吐量，從而降低了測(cè)試成本，不需要您在獲得實(shí)現(xiàn)目標(biāo)所需的數(shù)據(jù)之前花時(shí)間學(xué)習(xí)新的編程概念或語言。

• 專為封裝器件（MOSFET、BJT、IGBT、二極管、電阻器等）設(shè)計(jì)
• 豐富的測(cè)試庫，無需編程即可快速輕松地設(shè)置和執(zhí)行測(cè)試
• 內(nèi)置數(shù)據(jù)分析工具，可快速分析參數(shù)數(shù)據(jù)
• 使用自動(dòng)硬件管理工具簡(jiǎn)化儀器配置

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查看 ACS 基本版數(shù)據(jù)表

• 支持以下測(cè)試模塊：GUI、Lua Script、Python 和 C 語言
• 支持各種儀器和探頭，以適應(yīng)廣泛的應(yīng)用
• 直觀的 GUI 簡(jiǎn)化了 I-V 測(cè)試、分析以及從臺(tái)式測(cè)試儀到全自動(dòng)參數(shù)測(cè)試儀的結(jié)果，以增強(qiáng)用戶體驗(yàn)
• 在設(shè)備、子站點(diǎn)、站點(diǎn)、晶片和暗盒級(jí)別開發(fā)和執(zhí)行測(cè)試，以提高測(cè)試能力

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查看 ACS 標(biāo)準(zhǔn)版數(shù)據(jù)表

• 系統(tǒng)配置包括 2 到 44 個(gè)通道
• 符合 JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)的綜合測(cè)試套件
• 針對(duì)新興技術(shù)和成熟技術(shù)進(jìn)行了優(yōu)化
• 同時(shí)支持順序測(cè)試和并行測(cè)試
• 全自動(dòng)化的單站點(diǎn)和多站點(diǎn)能力
• 兼容所有常用的晶片探頭測(cè)試臺(tái)
• 實(shí)時(shí)繪圖和晶片繪制

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查看 ACS WLR 版數(shù)據(jù)表

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軟件的維護(hù)通過維護(hù)許可證進(jìn)行。維護(hù)許可證可延長(zhǎng)軟件的 維護(hù)期，以便能持續(xù)進(jìn)行軟件更新。作為軟件本身價(jià)格的 一部分，維護(hù)是在發(fā)布新功能時(shí)保持軟件得到更新的方式。鑒于訂閱已包括整個(gè)訂閱期內(nèi)的維護(hù)，該許可證 僅適用于性許可證。維護(hù)許可證應(yīng)在維護(hù)過期之日或之前應(yīng)用， 這樣才能接收到不間斷的軟件更新。如果維護(hù)確實(shí)過期了，通過購買足以 從過期之日接上并延長(zhǎng)的許可證 即可輕松延長(zhǎng)維護(hù)期。與購買的版本相比，以此方式續(xù)訂維護(hù) 可確保以較低的價(jià)格獲得更新的軟件。

注： 性許可證包括一年維護(hù)，但是一年后， 每 12 個(gè)月將要求使用新的維護(hù)許可證才能繼續(xù)接收更新。

從實(shí)驗(yàn)室到晶圓廠的應(yīng)用

ACS基礎(chǔ)版集成測(cè)試系統(tǒng)是參數(shù)化揀選、高功率半導(dǎo)體器件檢定和晶片級(jí)可靠性測(cè)試等應(yīng)用的完整解決方案。當(dāng)配合適合的半自動(dòng)和全自動(dòng)探針臺(tái)，它們的硬件配置和測(cè)試項(xiàng)目開發(fā)可以很容易地針對(duì)特定的任務(wù)進(jìn)行優(yōu)化。

使用 Keithley 高功率系統(tǒng) SMU 儀器和 ACS 基礎(chǔ)版軟件測(cè)試功率半導(dǎo)體設(shè)備的應(yīng)用指南

ACS 多站點(diǎn)并行測(cè)試集成測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用指南

Increase Reliability Throughput

Reliability tests improve quality, reduce failure rates, ensure high yields, and increase confidence. ACS Software supports Shared Stress methodology for high volume reliability testing, accelerating test times. 

Shared Stress Reliability Testing with ACS Application Note

Ultra-Low Resistance Measurements using Delta Mode

The 2182A/622X combination is well suited for many nanotechnology applications because it can measure resistance without dissipating much power in the device under test (DUT), which would otherwise invalidate results or even destroy the DUT. Perform Delta Mode tests with ACS Software to incorporate these sensitive measurements into a test system.

Keithley Ultra-Low Resistance Configurations Series 6200/2182A

用于GaN HEMT I-V 特性分析的電源時(shí)序

由于GaN HEMT的“常開"特性，在進(jìn)行I-V特性分析時(shí)需要一個(gè)特定的電源時(shí)序。ACS軟件支持在不破壞器件本身的I-V特性的情況下，對(duì)器件的GaN HEMT特性進(jìn)行電源時(shí)序測(cè)試。

GaN HEMT 檢定的電源時(shí)序應(yīng)用指南

服務(wù)于半導(dǎo)體工作流程中的應(yīng)用

ACS Basic Edition 和 ACS Standard Edition 軟件在整個(gè)半導(dǎo)體工作流程中均用于對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行廣泛的測(cè)試，以獲得詳細(xì)的檢定。整合 ACS Basic 和 ACS Standard 的測(cè)試系統(tǒng)可提供：

• 在設(shè)備、晶圓和暗盒級(jí)進(jìn)行測(cè)試
• 靈活的配置、軟件和應(yīng)用程序定制
• 交互式和自動(dòng)化系統(tǒng)操作
• GUI 和腳本工具的強(qiáng)大組合，用于測(cè)試模塊開發(fā)

開發(fā)階段

ACS Basic Edition 軟件于組件和分立（封裝）半導(dǎo)體器件的參數(shù)測(cè)試。該軟件運(yùn)用以下特點(diǎn)，限度地提高了技術(shù)人員與工程師在研發(fā)方面的生產(chǎn)力：

• 專為封裝器件（MOSFET、BJT、IGBT、二極管、電阻器等）設(shè)計(jì)
• 豐富的測(cè)試庫，無需編程即可快速輕松地完成測(cè)試設(shè)置和執(zhí)行
• 內(nèi)置數(shù)據(jù)分析工具，可快速分析參數(shù)數(shù)據(jù)
• 支持 Keithley 2600B 系列、2400 系列、2651A 系列和 2657A 系列系統(tǒng) SourceMeter SMU 儀器

集成階段

集成階段使用 ACS Standard Edition 軟件進(jìn)行半自動(dòng)晶圓測(cè)試，包括穩(wěn)定的過程開發(fā)和晶圓級(jí)可靠性 (WLR)。該軟件可用于 SMU-per-pin 系統(tǒng)級(jí)測(cè)試。ACS WLR 軟件提供以下好處：

• 全自動(dòng)功能，可測(cè)試單個(gè)晶圓或整個(gè)暗盒
• 可實(shí)現(xiàn)靈活的測(cè)試設(shè)置和并行測(cè)試的軟件
• 可靠性測(cè)試模塊 (RTM) 符合 JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
• 支持創(chuàng)建定制的測(cè)試模塊/程序

生產(chǎn)階段

ACS 標(biāo)準(zhǔn)版軟件還適用于集成的機(jī)架式自動(dòng)定制測(cè)試系統(tǒng)，用于過程控制監(jiān)控 (PCM)、晶圓驗(yàn)收測(cè)試 (WAT) 和晶粒挑揀。ACS Standard 軟件中內(nèi)置的許多工具和功能可增強(qiáng) 設(shè)備的自動(dòng)檢定能力：

• 晶圓和暗盒級(jí)自動(dòng)化
• 將設(shè)備和測(cè)試映射到站點(diǎn)和子站點(diǎn)的測(cè)試圖
• 交互式探針臺(tái)控制模式
• 單個(gè)或每個(gè)晶圓的 Keithley 數(shù)據(jù)文件